Angular spectroscopic analysis: an optical characterization technique for laterally oxidized AlGaAs layers ■
P. Heremans, P. Heremans,
Maarten Kuijk,
Maarten Kuijk, Reiner Windisch, Reiner Windisch, J. Vanderhaegen, J. Vanderhaegen, Hans De Neve, Hans De Neve,
Roger Vounckx,
Roger Vounckx, Gustaaf Borghs, Gustaaf Borghs